- 加熱爐設(shè)備
- 晶體及材料
- 破碎/球磨設(shè)備
- 壓片設(shè)備
- 輥壓設(shè)備
- 切割設(shè)備
- 磨拋設(shè)備
- 清洗設(shè)備
- 電池研發(fā)設(shè)備
- 薄膜制備
- 配件
- 其它實驗室設(shè)備
硅材料綜合測試儀
- 型號：
- JX2008
- 產(chǎn)品概述：
- JX2008電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業(yè)的篩選。
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| 參數(shù)
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1.具有電阻率及型號測試功能，適合分選型號，并能夠測試并顯示出電阻率的值。 2.電阻率分檔直觀，P/N報警門限分設(shè)。 3.預設(shè)樣片厚度，自動修正，直讀電阻率 4.P/N分選精度超強 5.交流電AC220V供電 6.主機尺寸：155×120×50mm 6.電阻率:0.001-100歐姆厘米 7.P/N型號:0.005歐姆厘米<電阻率<100歐姆厘米
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